欢迎来北京斯达沃科技有限公司!我们将为您提供周到的服务!

业务咨询:18600010653
技术支持:010-69736177

产品分类

Product classification

相关文章

Related article

AccuSizer 780 A9000 FXnano-SIS 纳米大颗粒粒度仪集自动进样、自动检测、数据处理等全自动检测功能于一身,为用户提供可方便、快捷、高效、可靠的粒径分析。纳米大颗粒计数器AccuSizer A9000
纳米粒径及Zeta电位分析仪Nicomp Z3000采用先进的设计理念优化结构设计,充分有效地融合了动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)和电泳光散射(ELS)技术,即可以多角度(步长0.9μm;)检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布,又可以小角度测量Zeta电位。粒度测试范围:粒度测试范围:0.3 nm – 10 µm。
动态光散射纳米粒径分析仪Nicomp N3000是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来,采用动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理检测分析颗粒的粒度分布,粒径检测范围 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯( Gaussian)单峰算法和拥有专li技术的 Nicomp 多峰算法,对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势
纳米粒度分析仪NS-90在一台仪器中集成了动态光散射技术和静态光散射两种技术。动态光散射法用于测量粒度及分子大小,静态光散射法用于确定蛋白质与聚合物的分子量。这种技术对整个系统的稳定性的要求极高,要求每个设计元素都必须实现优化,以确保高准确性和重现性。
  • 共 4 条记录,当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 

北京斯达沃科技有限公司专业供应销售纳米粒度仪系列产品,欢迎咨询。

Copyright © 2019 版权所有:北京斯达沃科技有限公司  ICP备案号:京ICP备19059254号-1  管理登陆  技术支持:化工仪器网   总流量:91689  网站地图

扫一扫访问手机站扫一扫访问手机站
访问手机站