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纳米粒径及Zeta电位分析仪NicompZ3000采用先进的设计理念优化结构设计,充分有效地融合了动态光散射(DynamicLightScattering,DLS)和电泳光散射(ELS)技术,即可以多角度(步长0.9μm;)检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布,又可以小角度测量Zeta电位。粒度测试范围:粒度测试范围:0.3nm–10µm。
动态光散射纳米粒径分析仪NicompN3000是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来,采用动态光散射(DynamicLightScattering,DLS)原理检测分析颗粒的粒度分布,粒径检测范围0.3nm–10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯(Gaussian)单峰算法和拥有专li技术的Nicomp多峰算法,对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势
纳米粒度分析仪NS-90在一台仪器中集成了动态光散射技术和静态光散射两种技术。动态光散射法用于测量粒度及分子大小,静态光散射法用于确定蛋白质与聚合物的分子量。这种技术对整个系统的稳定性的要求极高,要求每个设计元素都必须实现优化,以确保高准确性和重现性。
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