欢迎来北京斯达沃科技有限公司!我们将为您提供周到的服务!

业务咨询:18600010653 / 18600710518(微信同号)
技术支持:010-69736177

产品分类

Product classification

相关文章

Related article

产品中心
首页 > 产品中心 > > 环境水文土壤植物科学类>SDW-ZW1500根系生长监测系统

产品名称:根系生长监测系统

发布时间:2024-09-29

产品型号:SDW-ZW1500

产品特点:根系生长监测系统可以在自然状态下,获取植物根系原位的高清图片信息,辅助以专业分析软件获取植物根系重要参数,提供给植物根系生态、抗逆性、胁迫等研究者地下根系生长的研究资料。

SDW-ZW1500根系生长监测系统的详细资料:

根系生长监测系统产品介绍:


根系生长监测系统可以在自然状态下,获取植物根系原位的高清图片信息,辅助以专业分析软件获取植物根系重要参数,提供给植物根系生态、抗逆性、胁迫等研究者地下根系生长的研究资料。


主要特点:


l 丰富快捷键功能。进行多文档操作;粘贴复制功能使绘制根系轻松且迅速;多节点框选功能可整体拖拽平移根系;角度偏移校正功能可调整不同级别根系间所形成的角度,尤其适合根系时空对比分析;

l 多样化图表功能。具有折线图、柱状图、散点图、面积图等丰富的数据图型样式选择功能;快捷Excel表格数据导出模式,可与ExcelMatLabSPASS等软件结合使用;强大的数据图表命名、修改、编辑等属性设置功能,使得数据的可视化更加丰富直接;

l 信息编辑功能。可对采集图像的时间、地点、命名、事件记录、注释等信息进行编辑管理,便于不同时间采集的同类数据或同一时间采集的不同数据进行对比及记录;

l 属性编辑功能。能够对导入的图像进行旋转、分辨率(DPI)更改、图像尺寸修改、图像对比度调整、图像锐化处理等属性功能进行调整;

l 辅助修正功能。可实现鼠标框选特定区域、放大缩小局部观察、统计所选区域、辅助裁剪污染区域,同时使用橡皮擦功能实现修正统计效果,根据图像尺寸等因素区别,自动进行杂质剔除,提高监视和校正对象的分析精度;

l 辅助标定功能。软件自带标定功能,实现半自动的尺寸标定,XY向可分别标定修正对象长度参数,结合跟随放大镜功能,通过鼠标拖动进行精确测量;

l 颜色分析模式。软件具有RHS UCL两种彩色模式可选,能够对图像对象进行颜色信息分析,如通过颜色分析确定根系存活数量,定义活死根,输出不同颜色标记根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积等参数。


主要参数:



1.分辨率:1200DPI;

2.透明观察管尺寸:国际标准70mm外径,64mm内径,长度可定制;

3.扫描速度:在1200DPI模式下,扫描速度为515s

4.选配模块:可选配远程控制辅助模块PLUS+及自动升降控制系统模块LIFT+,组合使用;

5.软件放大分辨率:19200*19200像素;

6.图像像素:9600*9600像素(1200DPI);

7.工作环境:0℃~50,相对湿度0100%RH(没有水汽凝结);

8.扫描角度:360度;

9.图像色彩模式:彩色;

10.数据传输:USB;

11.主机尺寸:310mm长×60mm直径;

12.数据存储:存储在笔记本电脑、平板电脑、MUPC

13.工作方式:连接笔记本电脑(或平板电脑等)工作;

14.测量方式:可定点、定位连续监测;

15.画面尺寸:360°高分辨率图像(22*20厘米),非拼接图像;

16.数据浏览载体:掌上笔记本、台式机等有USB接口的设备;

17.充电电压:笔记本电压;

18.供电电源:笔记本USB端口供电或外接蓄电池或交流电源适配器;

19.操作系统:支持WinXPWin832位和64位操作系统;

20.语言模式:支持英文、简体中文及繁体中文;

21.测量精度:长度精度≤±1%,

面积精度<1%优质图像质量)或≤3%标准图像质量);

22.生物量参数测定:多种生物量测量参数,如水平生物量(总值、平均值、中值、标准差值、最大值、最大位置、最小值、最小位置等)、垂直生物量、根系水平分布情况、根长估计值等参数;

23.单根参数测定:多种单根参数,如长度、加权平均宽度、最大宽度、最小宽度、宽度标准差、加权加权平均角度、最大长度、最小长度、角度标准差、表面积、投影面积等;

24.方向走势参数:随根系长度方向走势可测得宽度走势、角度走势、表面积走势、投影面积走势、体积走势等参数;

25.菌根参数测定:能用盒维数法自动测根系分形维数。可分析根瘤菌体积在根系中的占比,以客观确定根瘤菌体贡献量。同时也可测量菌根长度、加权平均宽度、最大宽度、最小宽度、宽度标准差、最大长度、最小长度等常规参数;

26.根拓扑参数测定:该功能下,Pregizer、拓扑、自定义三种分级模式可自由切换。三种模式均可测量不同级别根系数量、加权平均宽度的均值、加权平均角度的均值、平均投影面积、长度标准差、加权平均宽度的标准差、加权平均角度的标准差等参数;通过拖拽关键节点wan美拟合曲折根系,zhi定根系父子拓扑关系,从而自动确定根总投影面积、总体积、平均长度、平均宽度、平均角度、角度标准差、体积标准差、连接数、关系角等拓扑参数;可单独自动分析主根或任意一支侧根的长度和分叉数,单独显示标记根系的任意直径段相应各参数(分档数、档直径范围任意可改,可不等间距地自定义),同时能够进行根的分叉裁剪、合并、连接等修正,修正操作能回退,以快速获得100%正确的结果。









留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

北京斯达沃科技有限公司(www.bjsdwvip.com)总流量:255756  管理登陆  技术支持:化工仪器网  网站地图

版权所有 © 2019  ICP备案号:京ICP备19059254号-1

扫一扫,添加商家微信

在线客服 联系方式 二维码

业务咨询

18600010653

扫一扫,添加微信